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Analyse en EBIC et TREBIC (MEB) de composants électroniques spatiaux après préparation par technique FIB. Réf: 096T2019SI

Description

La technique EBIC est un mode majeur de l'expertise des semi-conducteurs, son adaptation aux microsections FIB est en cours de développement.

Le stagiaire devra réaliser des essais de caractérisation en mode EBIC (Electron Beam Induced Current) et TREBIC (Time Resolved Electron beam induced Current), mode EBIC résolu en temporel. Optimiser des instrumentations developpées pour le mode TREBIC.

Profil

BAC + 4 ou 5
Etudiant en dernière année d’Ecoles d’ingénieur ou d’université, ou MASTER universités
Compétences souhaitées : instrumentation , électronique, physique du semi conducteur

Description de la structure

Non renseigné

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